(1)不容易找到在很宽波段范围中具有%反射率性能的长期稳定的参考样品。
(2)在反射率测量中，由于反射光路的变化灵敏，有样品和无样品时，光斑在光电探测器光敏面上的位置往往会变动，这导致明显增加误差。
(3)各种薄膜元件对反射率测量的范围和精度都有不同的要求，例如减反射膜，希望测得低反射率的精度不低于0.1%，而激光高反射镜要求在反射率高于99%的范围内，能够有优于0.01%的测量精度。
我们将从反射率测试的基本方法等几方面加以介绍。
1.单次反射法测试薄膜的反射率
单次反射法是最基本的反射率测试方法，目前普遍使用的薄膜样品表面反射率测试系统主要有日本OLYMPUS公司的USPM-RU反射显微测试系统、单次反射测试系统等等。
USPM-RU反射显微测试系统
USPM-RU型反射率测试系统，采用共焦显微镜的基本原理，实现对较薄基板样品表面光学薄膜反射率的光谱测试，该系统在测试中，采用标准的BK7玻璃(相当于我国的K9玻璃)作为标准样品。利用该标准样品的单个反射率作为对比参数，实现对待测薄膜样品的反射率测量。其公式为：其中：为BK7的反射信号，为BK7的理论反射率，I为样品的反射信号。
USPM-RU型反射率测试系统
该仪器可以方便测量~nm内的光谱反射率，波长分辨率为1nm,光谱精度为1%，且测量速度快，适宜于大批量减反射膜等常规薄膜的反射率测量测量。如果待测样品的反射率很高，接近%反射，为了获得高的精度最好采用反射率高的样品作为参比样品，这样方便获得更高的精度。
单次反射测量系统
由于K9和石英玻璃是测量增透膜时的理想参比样品，所以低反射率薄膜的测量均采单光路的相对测量方案，早期的低反射率测量用到此测量方案方案，与前面的USPM-RU型反射率测试系统相比，样品后表面对反射率的测量有一定影响。
单次反射测试系统
2.多次反射法测试薄膜的反射率——V-W法
单次反射测量的主要缺点是采用参考样品会影响测量精度。利用多次反射测量则可以消除其影响，可进行反射率的绝对测量，即V-W法，也称Strong方法。本方法适宜于测量高反射膜，得到的反射率的精度可以高于光度测量的精度，由于在样品上反射多次，本方法不适宜测量低反射率，特别是减反射膜。另外，本方法要求样本具有一定的面积，保证光线可以在样品表面有多次反射。V-W型光路在许多反射仪中得到应用，捷克F.Petru报道的反射仪采用V-W型光路并配合旋转扇形挡板，使测量光束和参考光束快速交替进入接收器，其优点是有利于减小光电探测器因光照疲劳引起的灵敏度变化。其光路图如下。
V-W型光路图也可以做成附件，加入到分光光度计的样品中，这样从两次测量中能测出样品的绝对反射率。
多次测量的方案也能用于分光光度计中反射率的测量中，Mahlein测量的装置的设计图如图。
对于高反射率的测量，反射次数越多，测量精度越高，当反射次数高达几十次时，常常利用折叠式离轴共振腔来构成多次反射的光路系统。
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